Trillinis Lab
![Quote Background](../../background/quote_hue88974d0f4f5229196997c1f8e981d6c_3458084_1920x0_resize_q75_h2_box.webp?v=1710347737)
Primárně určen pro analýzu rovinných optických prvků, náš TLNC profiler měří profil povrchů s přesností lepší než 200nm.
TLNC Nano Profiler
Nabízíme univerzální bezkontaktní systém pro rychlou charakterizaci optických komponent. Primárně určen pro analýzu rovinných optických prvků, náš TLNC profiler měří profil povrchů s přesností lepší než 200nm.
Rychlá příprava, kalibrace, a také prostor pro další zákaznické úpravy činní náš systém vhodný pro průmyslové využití.
Úprava pro charakterizaci jiných než rovinných prvků je také možná po dohodě se zákazníkem.
Vlastnosti
- Rychlé a jednoduché bezkontaktní měřění profilu
- Bez potřeby skenování
- Měření optických komponent o průměru až 80mm (větší rozměry na přání zákazníka)
- Charakterizace na vlnové délce 633nm (jiné vlnové délky na přání zákazníka)
- Přesnost lepší než 200nm
- Dynamický rozsah (max. P-V) až po 100um
![Product Image](../../products/tlnc-nano-profiler/product_hu0c610bd3638a14e6540124528cd31d59_2841826_640x0_resize_q75_h2_box_3.webp?v=1710347737)
Technická dokumentace
Datasheet | Stáhnout |